Artigo · Revista · 2016

On-wafer noise parameters measurement using an extended six-port network and conventional noise figure analyzer

International Journal of Microwave and Wireless Technologies

Citações: 3de outros trabalhos
Impacto normalizado por área: 0,291,00 é a média mundial para a sua área e o seu ano
Na sua área: Percentil 64pelas citações, face aos trabalhos da sua área e do seu ano
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Autores

3 autores de 2 instituições em 2 países

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