مقالة · مجلة · 2016

On-wafer noise parameters measurement using an extended six-port network and conventional noise figure analyzer

International Journal of Microwave and Wireless Technologies

المؤلفون

3 مؤلفين من مؤسستان في دولتان

Abdul‐Rahman Ahmedالمؤلف الأولالمؤلف المراسل
- Kwame Nkrumah University of Science and Technology (GH)
كما طُبع: Abdul-Rahman Ahmed
Dong-Hyun Lee
Kyung-Whan Yeomالمؤلف الرئيسي

قد يقع العمل في عدة مجالات، لكلٍّ منها درجة