Article · Revue · 2016

On-wafer noise parameters measurement using an extended six-port network and conventional noise figure analyzer

International Journal of Microwave and Wireless Technologies

Citations: 3par d’autres travaux
Impact normalisé par discipline: 0,291,00 correspond à la moyenne mondiale pour sa discipline et son année
Dans sa discipline: 64e centileselon les citations, face aux travaux de sa discipline et de son année
Auteurs: 3de 2 institutions

Auteurs

3 auteurs répartis entre 2 institutions dans 2 pays

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