مقالة · مجلة · 2022

Electronic properties and defect levels induced by n / p -type defect-complexes in Ge

E. Igumbor, O. Olaniyan, G.M. Dongho-Nguimdo, Refilwe E. Mapasha, Sohail Ahmad, E. Omotoso و1 آخرون

Materials Science in Semiconductor Processing

• وصول مغلق
• دولي · 4 دول

انتقل إلى الناشر10.1016/j.mssp.2022.106906