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Artigo · Revista · 2003

Method for Test Cost Reduction

Kwame Osei Boateng

Proceedings of the 21st IEEE VLSI Test Symposium

Acesso fechado

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Autores: 1de 0 instituições

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1 autor

Kwame Osei Boateng
tal como impresso: KO Boateng

Method for Test Cost Reduction · Peerford