Artigo · Revista · 2003
S.A. Jonah, I. S. Williams, B.J.B. Nyarko, E.H.K. Akaho, Y. Serfor-Armah
Journal of Trace and Microprobe Techniques
Ir para a editora10.1081/tma-120020275
tal como impresso: S. A. Jonah
tal como impresso: B. J. B. Nyarko
tal como impresso: E. H. K. Akaho