Article · Revue · 2003
S.A. Jonah, I. S. Williams, B.J.B. Nyarko, E.H.K. Akaho, Y. Serfor-Armah
Journal of Trace and Microprobe Techniques
Aller chez l’éditeur10.1081/tma-120020275
tel qu’imprimé : S. A. Jonah
tel qu’imprimé : B. J. B. Nyarko
tel qu’imprimé : E. H. K. Akaho