Artigo · Revista · 2005

Automatic test pattern generation for iterative logic arrays

Journal of Science and Technology (Ghana)

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Impacto normalizado por área: 0,001,00 é a média mundial para a sua área e o seu ano
Na sua área: Percentil 15pelas citações, face aos trabalhos da sua área e do seu ano
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K. O. BoatengPrimeiro autorAutor correspondente
- Kwame Nkrumah University of Science and Technology (GH)
tal como impresso: KO Boateng