مقالة · مجلة · 2005

Automatic test pattern generation for iterative logic arrays

Journal of Science and Technology (Ghana)

المؤلفون

مؤلف واحد

K. O. Boatengالمؤلف الأولالمؤلف المراسل
- Kwame Nkrumah University of Science and Technology (GH)
كما طُبع: KO Boateng