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Thème

SystèmeClairSombre

Reducing Test Application Time through Test Sub-Pattern Re-use · Peerford

Article · Revue · 2011

Reducing Test Application Time through Test Sub-Pattern Re-use

Kwame Osei Boateng, Kwasi Adu‐Boahen Opare

Journal of Electrical Engineering

Accès fermé

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Impact normalisé par discipline: —Pas encore évalué
Dans sa discipline: —Pas encore évalué
Auteurs: 2de 0 institution

Auteurs

2 auteurs

Kwame Osei BoatengPremier auteur
tel qu’imprimé : K. O. Boateng
Kwasi Adu‐Boahen OpareAuteur principal
tel qu’imprimé : KA Opare