Article · Revue · 1999

Electrical resistivity and the Néel point of Mn100−xCrx thin films

Cryogenics

Citations: 4par d’autres travaux
Impact normalisé par discipline: 0,261,00 correspond à la moyenne mondiale pour sa discipline et son année
Dans sa discipline: 52e centileselon les citations, face aux travaux de sa discipline et de son année
Auteurs: 2de 2 institutions

Auteurs

2 auteurs répartis entre 2 institutions dans 1 pays

F. BoakyePremier auteurAuteur correspondant
- Kwame Nkrumah University of Science and Technology (GH)
tel qu’imprimé : F Boakye
K.G. AdanuAuteur principal
- University of Ghana (GH)
tel qu’imprimé : K.G Adanu