مقالة · مجلة · 1999

A Method of Test Generation for Iterative Logic Arrays (特集: VLSI プロセッサ及び新アーキテクチャ LSI 技術, 一般)

Kwame Osei Boateng

電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路

• وصول مغلق