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Artigo · Revista · 1999

A method of test generation for iterative logic arrays

Kwame Osei Boateng

電子情報通信学会技術研究報告= IEICE technical report: 信学技報

Acesso fechado

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Kwame Osei BoatengPrimeiro autor
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A method of test generation for iterative logic arrays · Peerford