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Tema

SistemaClaroEscuro

conference paper · 2002

Coplanar microwave sensor for industrial measurements

S.S. Stuchly, Christopher Bassey

Acesso fechado
Internacional · 2 países

Ir para a editora 10.1109/mikon.1998.742821

Citações: 6de outros trabalhos
Impacto normalizado por área: 0,711,00 é a média mundial para a sua área e o seu ano
Na sua área: Percentil 64pelas citações, face aos trabalhos da sua área e do seu ano
Autores: 2de 2 instituições

Autores

2 autores de 2 instituições em 2 países

S.S. StuchlyPrimeiro autor
Christopher BasseyAutor sénior
- University of Ilorin (NG)
tal como impresso: C.E. Bassey

Objetivos de desenvolvimento

9Indústria, inovação e infraestruturas

Países envolvidos

Canadá
Nigéria

Também assinam

University of Victoriaensino · CA

Áreas

Um trabalho pode estar em várias, cada uma com uma pontuação

Microwave and Dielectric Measurement TechniquesTópico
Semiconductor Lasers and Optical DevicesTópico
Sensor Technology and Measurement SystemsTópico

Coplanar microwave sensor for industrial measurements · Peerford