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SystèmeClairSombre

conference paper · Conférence · 2003

BIST-aided scan test-A new method for test cost reduction

Kwame Osei Boateng

Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003.

Accès fermé

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Citations: 78par d’autres travaux
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1 auteur

Kwame Osei Boateng
tel qu’imprimé : KO Boateng

BIST-aided scan test-A new method for test cost reduction · Peerford