انتقل إلى المحتوى
Peerford
تحليلات البحث العلمي
الدول
المؤسسات
الباحثون
المجالات
التصنيفات
المقارنة
Commons
ابحث في المؤسسات والباحثين والدول والمنشورات
تسجيل الدخول
الدول
المؤسسات
الباحثون
المجالات
التصنيفات
المقارنة
Commons
حيث يتحدث الباحثون عن أعمالهم
ابحث في المؤسسات والباحثين والدول والمنشورات
8-포트회로망을 이용한 온-웨이퍼형 DUT 의 잡음파라미터 측정 · Peerford
مقالة · مجلة · 2014
8-포트회로망을 이용한 온-웨이퍼형 DUT 의 잡음파라미터 측정
Abdul‐Rahman Ahmed
한국전자파학회논문지
وصول مغلق
انتقل إلى الناشر
الاستشهادات
11
الاستشهادات
من أعمال أخرى
التأثير المرجّح بالمجال
—
التأثير المرجّح بالمجال
لم يُقيَّم بعد
ضمن مجاله
—
ضمن مجاله
لم يُقيَّم بعد
المؤلفون
1
المؤلفون
من 0 مؤسسة
المؤلفون
مؤلف واحد
Abdul‐Rahman Ahmed
كما طُبع: Abdul-Rahman Ahmed