conference paper · مؤتمر · 1998
Diagnosis of single gate delay faults in combinational circuits using delay fault simulation
Kwame Osei Boateng
Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98)(Cat. No. 98TB100259)
انتقل إلى الناشر
- الاستشهادات
- 9الاستشهاداتمن أعمال أخرى
- التأثير المرجّح بالمجال
- —التأثير المرجّح بالمجاللم يُقيَّم بعد
- ضمن مجاله
- —ضمن مجالهلم يُقيَّم بعد
- المؤلفون
- 1المؤلفونمن 0 مؤسسة